Mae cysylltiadau edafedd yn strwythurau cau a ddefnyddir yn eang yn y sector diwydiannol. Mewn-modelau a chynhyrchion gradd milwrol, cyflawnir dros 80% o gysylltiadau strwythurol drwy edafu; o ganlyniad, mae cydymffurfiaeth yr edafedd hyn yn effeithio'n uniongyrchol ar berfformiad cydosod a diogelwch gweithredol yr offer.
01
Safonau Domestig ar gyfer Arolygu Trywydd
Mae Safon GB/T 197–1981, *Ledau Sgriw Metrig Pwrpas Cyffredinol-Goddefiannau*, yn sefydlu'r meini prawf ar gyfer pennu cydymffurfiad diamedr traw edau. Yn benodol, mae'n amodi na ddylai *diamedr traw gwirioneddol effeithiol* edau fod yn fwy na diamedr traw y *proffil terfyn deunydd uchaf*, tra na ddylai'r *diamedr traw sengl* ar unrhyw bwynt penodol ar yr edefyn gwirioneddol fod yn fwy na diamedr traw y * proffil terfyn deunydd lleiaf *.
Felly, mae defnyddio diamedr traw y proffil terfyn deunydd uchaf fel y gwerth terfyn yn gweithredu fel yr unig sail ar gyfer penderfynu a yw edefyn gwirioneddol yn gallu ymgysylltu'n iawn. Mae'r mesurydd edau "Go" wedi'i ddylunio'n union yn unol â'r gwerth terfyn hwn. Mewn geiriau eraill, mae defnyddio mesurydd edau "Go" i archwilio diamedr traw effeithiol edau yn gwarantu ei gydosodiad yn effeithiol.
Ar hyn o bryd, mae mwyafrif helaeth yr archwiliadau edefyn yn fy ngwlad yn cael eu cynnal yn seiliedig ar yr "egwyddor ar gyfer pennu cydymffurfiad diamedr traw"-yn benodol, trwy ddefnyddio'r dull medryddu "Ewch/Na-Ewch" traddodiadol. Fodd bynnag, yn ystod arolygiadau llinynnol arferol, mae anghydfodau ynghylch cymhwyso a defnyddio'r mesuryddion hyn yn codi'n aml.
Er mwyn datrys anghydfodau sy'n deillio o ddefnyddio medryddion mewn gwahanol gyflyrau traul-lle mae dimensiynau terfyn gwirioneddol yr edafedd medrydd (gan adlewyrchu'r gwahaniaeth rhwng amodau newydd ac amodau treuliedig) yn ymwahanu-Safon GB/T 3934–1983, *Ledau Sgriw Metrig Pwrpas Cyffredinol{{4} sefydlu Mesuryddion a Gent 1: 1 categori ar wahân (gwerth 1: 1 categori a Gent); "Mesuryddion Derbyn" a "Mesuryddion Gweithio."
Mae "Mesuryddion Derbyn" yn cyfeirio at y mesuryddion edau a ddefnyddir gan adrannau arolygu neu gynrychiolwyr defnyddwyr wrth dderbyn darnau gwaith gorffenedig yn ffurfiol; Mae "Mesuryddion Gwaith," i'r gwrthwyneb, fel arfer yn cael eu cyflogi at ddibenion archwilio edau yn ystod y broses gynhyrchu wirioneddol. Mae'r egwyddor arweiniol ar gyfer cymhwyso'r ddau gategori mesur hyn fel a ganlyn: ar gyfer "Mesuryddion Gweithio", mae mesurydd "Go" newydd neu gymharol newydd yn cael ei baru â hen fesurydd "No-Go" (neu un sy'n agosáu at ei derfyn traul); i'r gwrthwyneb, ar gyfer "Mesuryddion Derbyn", mae hen fesurydd "Go" (neu un sy'n agosáu at ei derfyn traul) yn cael ei baru â mesurydd "Na-Go" newydd neu gymharol newydd. 02
Dulliau Arolygu Cyffredin
Wrth fesur paramedrau edau, yn seiliedig ar y math o offer mesur a ddefnyddir, gellir dosbarthu dulliau mesur edau yn fras i'r categorïau canlynol:
(1) Thread Go/Na-Mynd Dull Arolygu Mesur
[Delwedd]
Gall y dull archwilio mesurydd Go/No-Go traddodiadol, yn seiliedig ar Egwyddor Taylor, ond bodloni'r gofynion sylfaenol ar gyfer archwilio edafedd. Manteision y dull hwn yw ei fod yn gyflym, yn economaidd ac yn ymarferol. Ar gyfer mentrau sydd â galluoedd gweithgynhyrchu uwch-yn benodol y rhai sy'n defnyddio edau cymwysedig-offer ffurfio ac edau arbenigol-cyfarpar prosesu edau (fel tapiau, dies, peiriannau rholio edau, a pheiriannau dilyn edau)-gellir rheoli ansawdd yr edafedd yn effeithiol.
Prif anfantais y dull arolygu hwn yw ei fod yn darparu asesiad ansoddol yn unig i weld a yw diamedr y traw edau yn dderbyniol; dim ond nodi a yw diamedr y traw yn dod o fewn yr ystod a ddiffinnir gan y diamedr traw sengl lleiaf a'r diamedr traw swyddogaethol uchaf, ond ni all bennu gwerth rhifiadol penodol dimensiynau'r edau. At hynny, ni ellir mesur na rheoli paramedrau fel gwallau ongl ystlys, gwallau traw, a gwallau ffurf amrywiol yn unigol gan ddefnyddio'r dull hwn.
(2) Micrometer Thread
[Delwedd]
Mae'r micromedr edau yn fath arbenigol o ficromedr sgriw. Mae'n cynnwys pen mesur unigryw a gynlluniwyd i gydymffurfio'n union â'r proffil edau: mae un pwynt cyswllt yn einion siâp V sy'n paru â brigau'r edau, tra bod y llall yn flaen gwerthyd conigol sy'n paru â gwreiddiau'r edau. Daw'r micromedr gyda set o bennau mesur cyfnewidiol, lle mae pob pâr penodol o bennau wedi'u cynllunio i fesur edafedd o fewn ystod traw penodol.
Yn ôl manylebau technegol y micromedr edau, ei wall cyfun uchaf yw ± 0.028 mm. Fodd bynnag, oherwydd gwallau onglog cynhenid yn y cysylltiadau mesur-ac o ystyried y gall onglau traw ac ystlys yr edefyn allanol sy'n cael ei fesur hefyd gynnwys gwallau sylweddol-gall yr ansicrwydd mesur ar gyfer diamedr traw gyrraedd mor uchel â 0.10 mm wrth ddefnyddio'r dull mesur absoliwt. O ganlyniad, mae'r dull hwn yn cael ei ddefnyddio'n nodweddiadol ar gyfer mesur diamedr traw edafedd allanol ar weithfannau lle nad yw manylder uchel yn ofyniad hanfodol.
(3) Tri -Dull Gwifren
[Delwedd]
Mae'r dull tair gwifren yn defnyddio set o dair gwifren fesur-wedi'u dewis yn benodol i gael diamedr manwl gywir ac unfath-i fesur diamedr traw yr edau yn anuniongyrchol. Trwy osod tair gwifren fesur yn y rhigolau edau ar ddwy ochr yr helics, a defnyddio micromedr lifer i fesur y diamedr allanol cyffredinol, gellir cyfrifo diamedr traw sengl yr edau yn seiliedig ar y berthynas swyddogaethol rhwng y diamedr traw, y diamedr gwifren, yr ongl proffil edau, a'r traw. Er mwyn symleiddio'r broses gyfrifo, dylid dewis gwifrau mesur o ddiamedrau priodol.
(4) Mesur-math o Offeryn Mesur Edau Cynhwysfawr
[Delwedd]
[Delwedd]
[Delwedd]
Mae'r teclyn mesur edafedd cynhwysfawr uchel hwn yn defnyddio dull sy'n seiliedig ar gyswllt. O'i gymharu â thechnegau mesur traddodiadol a di-gyswllt, mae'n cynnig manteision sylweddol a dichonoldeb ymarferol. Mae ganddo gywirdeb uchel, rhwyddineb defnydd, ac ymarferoldeb pwerus, gan ei wneud yn arf amhrisiadwy ar gyfer mesureg edau.
(5) Dull Delweddu Optegol
[Delwedd]
Mae offer arolygu cyffredin sy'n defnyddio'r dull delweddu optegol ar gyfer mesur edau yn cynnwys taflunwyr proffil a microsgopau offer cyffredinol. Mae taflunydd proffil yn mesur paramedrau edau amrywiol-megis y diamedr allanol cyffredinol-trwy daflunio silwét mwy o'r darn gwaith a defnyddio aliniad gweledol a chyfieithu cyfesurynnau. Fodd bynnag, oherwydd ei ddibyniaeth ar aliniad ffin weledol-wedi'i gyfuno â chyfyngiadau cynhenid wrth fesur diamedr traw-mae cywirdeb y dull taflunio yn eithaf cyfyngedig yn gyffredinol.
Mae'r microsgop offer cyffredinol yn defnyddio system optegol i daflunio'r proffil edau i faes golygfa'r sylladur. Trwy ddefnyddio graddfeydd gratio ar gyfer cyfieithu manwl gywir, gellir ei ddefnyddio i wirio paramedrau edau amrywiol; yn nodedig, mae'r gallu i ogwyddo'r lens yn mynd i'r afael yn effeithiol â mater ongl helics yr edau, a thrwy hynny alluogi cywirdeb mesur uwch ar gyfer edafedd.
(6) Dull Triangulation Laser
[Delwedd]
Mae triongli laser wedi denu sylw eang fel dull profi arall nad yw'n ddinistriol. Mae'n seiliedig yn bennaf ar egwyddorion triongli optegol traddodiadol; trwy gipio set ddata o bwyntiau cyfesurynnol sy'n cynrychioli proffil croes echelinol arwyneb yr edefyn, mae'n caniatáu ar gyfer cyfrifo gwahanol baramedrau edau wedi hynny.
Mae'r dull mesur hwn yn cynnwys gweithrediad di-gyswllt, manylder uchel, a rhwyddineb rheoli, ac mae hefyd yn berthnasol i fesur cyflymder uchel maint micro. Fodd bynnag, mae'r dull yn agored i ffactorau amgylcheddol-megis tymheredd-a nodweddion arwyneb y gwrthrych sy'n cael ei fesur; o ganlyniad, rhaid ystyried y ffactorau dylanwadol hyn yn ofalus yn ystod y camau prosesu data a delweddau dilynol.
(7) Mesur trwy Beiriant Mesur Cydlynol (CMM)
[Delwedd]
Defnyddir Peiriannau Mesur Cydlynol (CMMs) yn eang ar draws diwydiannau megis gweithgynhyrchu peiriannau, modurol, awyrofod, amddiffyn a gwneud llwydni. Fe'u cyflogir i fesur ystod amrywiol o gydrannau a nodweddion, gan gynnwys gorchuddion, fframiau, gerau, camiau, olwynion llyngyr, sgriwiau llyngyr, llafnau, cromliniau, ac arwynebau cyfuchlinol cymhleth. Mae nifer o ddulliau wedi'u datblygu ar gyfer mesur paramedrau edau trwy ôl-osod Peiriannau Mesur Cydlynol (CMMs).
Fodd bynnag, mae'r CMM yn ddyfais-pwrpas cyffredinol a ddefnyddir yn eang; fel arfer nid oes ganddo stilwyr sydd wedi'u cynllunio'n benodol ar gyfer mesur edau, sy'n golygu bod angen defnyddio pennau stiliwr wedi'u gwneud yn arbennig ar gyfer edafedd bach o faint. Ymhellach, mae datblygiad meddalwedd wedi'i gyfyngu gan lwyfan meddalwedd cynhenid y CMM, sy'n ei gwneud hi'n anodd gweithredu cyfuchlin wedi'i theilwra-yn dilyn system reoli wedi'i theilwra i forffoleg geometrig penodol edafedd. At hynny, mae'r gost sy'n gysylltiedig â CMMs yn sylweddol uwch na chost offer mesur edau arbenigol.
(8) Stylus-Offeryn Mesur Proffil Trywydd Sganio
[Delwedd]
Mae'r offeryn mesur proffil edau sganio stylus yn gweithredu trwy sganio arwynebau cyfuchlin uchaf ac isaf adran groes echelinol edau yn barhaus. Yn seiliedig ar y data cyfuchlin sy'n deillio o hynny, mae wedyn yn cyfrifo paramedrau edau amrywiol, megis diamedr traw, diamedr mawr, diamedr bychan, traw, ongl hanner ystlys, a tapr.
